HAST测试，全称为 高加速应力测试（Highly Accelerated Stress Test），是一种针对电子产品或组件的可靠性测试方法。其主要目的是通过在高温、高湿与压力的环境下对产品施加高于正常工作条件的应力，以快速识别产品中的潜在缺陷和失效模式，从而提高产品的可靠性和稳定性。
HAST测试可以模拟产品在实际使用中可能遇到的恶劣工况，如高温、高湿和高压环境，从而在短时间内评估产品的可靠性和耐用性。这种测试方法广泛应用于电子零件、半导体、电路板、连接器等众多产品领域，成为企业确保产品质量的关键手段。
HAST测试通常在受控的压力容器内进行，通过设定和创建特定的温度、湿度和压力条件，加速水分穿透外部保护性塑料包装并将这些应力条件施加到材料本体或产品内部。测试条件可以根据具体需求进行调整，例如在121°C和100% RH的条件下进行不饱和类型测试，或在110°C、120°C或130°C和85% RH的条件下进行饱和类型测试。
通过HAST测试，企业可以在较短的时间内发现产品中的潜在问题，从而采取相应的改进措施，提高产品的整体质量和可靠性。
